實驗室光束線裝置
簡要描述:實驗室光束線裝置SAXSpoint 5.0 SAXSpoint 5.0 是采用同步加速器探測器技術(shù)的極限 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 實驗室光束線,可在緊湊型系統(tǒng)中實現(xiàn)最高分辨率。受益于安東帕出色的 SAXS 系統(tǒng),該系統(tǒng)可解析高達 620 nm 的納米結(jié)構(gòu)。
- 產(chǎn)品型號:SAXSpoint 5.0
- 廠商性質(zhì):代理商
- 更新時間:2024-12-18
- 訪 問 量:1458
產(chǎn)品概述
品牌 | Anton Paar/安東帕 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,制藥 |
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實驗室光束線裝置SAXSpoint 5.0
SAXSpoint 5.0 是采用同步加速器探測器技術(shù)的極限 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 實驗室光束線,可在緊湊型系統(tǒng)中實現(xiàn)最高分辨率。受益于安東帕出色的 SAXS 系統(tǒng),該系統(tǒng)可解析高達 620 nm 的納米結(jié)構(gòu)。
實驗室光束線裝置SAXSpoint 5.0產(chǎn)品詳情
在最短的測量時間內(nèi)提供出色的數(shù)據(jù)質(zhì)量
SAXSpoint 5.0 采用高光譜純度和無散射光束準直的高亮度 X-射線束。配備強大的微焦斑光源或 MetalJet X-射線源和高性能光學(xué)元件,可在極短的曝光時間內(nèi)提供出色的測量結(jié)果。結(jié)合最新的混合光子計數(shù) (HPC) 探測器,可確保獲得高質(zhì)量的 SAXS/WAXS/GISAXS/RheoSAXS 結(jié)果,以實現(xiàn)納米結(jié)構(gòu)材料分析。通過這種出色的設(shè)置,可以實現(xiàn)很好的分辨率,并以同類產(chǎn)品中緊湊的系統(tǒng)尺寸解析高達 620 nm 的結(jié)構(gòu)。
一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數(shù)據(jù)
SAXSpoint 5.0 具有移動探測器 Slidemaster,可在非常寬的 q 范圍內(nèi)進行全自動 X-射線散射研究。因此,您可以一次性獲得 SAXS 和 WAXS 數(shù)據(jù),無需重新調(diào)準系統(tǒng)。只需移動探測器,即可為每次實驗選擇優(yōu)良的 q 范圍,從最高 SAXS 分辨率到寬的 WAXS 范圍。
SAXSpoint 5.0 為您的測量提供自動光束遮掩器選擇和定位。由于它集成了最新的 EIGER2 R 探測器,因此可以進行無窗和無光束遮擋測量。
簡化日常實驗工作
自動完成日常測量工作,加快測量速度,是 SAXSpoint 5.0 實驗室系統(tǒng)的標準性能。SAXSpoint 5.0 配備了 Stagemaster,它可以自動對準所有 X-射線成分和樣品臺,識別安裝的樣品臺,并相應(yīng)地配置系統(tǒng)。這為您的測量設(shè)置提供優(yōu)良的可能結(jié)果。使用 ASX 自動進樣器,對液體樣品,如分散液和生物樣品,自動樣品進出。ASX 自動進樣器可配備最多 192 個樣品,并針對敏感型樣品提供冷卻選件。
樣品臺選擇:一套系統(tǒng)適用于所有實驗條件
幾乎所有種類的納米結(jié)構(gòu)材料都可以使用安東帕的各種樣品臺進行分析。使用 TrueFocus 可以輕松、快速地在不同的樣品臺之間切換,并可確保自動對準所有組件。受益于測量裝置唯有的靈活性。
溫控臺:在 -150°C 到 600 °C 范圍進行控溫研究。
濕度樣品臺:在規(guī)定的相對濕度和溫度條件下進行分析
GISAXS/GIXD 樣品臺:在真空條件下或者與特別的 GISAXS 加熱模塊(高達 500℃)聯(lián)用研究納米結(jié)構(gòu)表面和薄膜
加熱/冷卻進樣器:利用溫控進樣器進行自動研究(多固相/糊狀/液體樣品或毛細管樣品)
Tensile 樣品臺:在定義的機械載荷下,分析納米結(jié)構(gòu)纖維。定制樣品臺解決方案。
RheoSAXS 模塊:一次性進行完整的流變和納米結(jié)構(gòu)研究
剪切臺:高達 350 °C下的剪切實驗
如果遇到特殊實驗挑戰(zhàn),請與我們聯(lián)系。可根據(jù)需求提供定制設(shè)計的樣品臺和樣品槽。
直接獲得結(jié)果:功能強大的控制和數(shù)據(jù)分析軟件
功能強大的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 軟件解決方案支持自動執(zhí)行常規(guī)步驟,如測量設(shè)置和調(diào)準,以及綜合數(shù)據(jù)分析。設(shè)置連續(xù)測量,利用自動進樣、溫度掃描和時間相關(guān)研究,并使用可定制的模板分析獲得的 1D 和 2D 數(shù)據(jù)集。確定回轉(zhuǎn)半徑 (RG)、粒徑、Porod 常數(shù)、比表面積、Kratky 曲線等參數(shù)是 SAXSanalysis™ 的標準功能。對于高級結(jié)構(gòu)解析 (PCG),如粒徑、粒徑分布、形狀和內(nèi)部結(jié)構(gòu),可使用 IFT 和去卷積方法。
技術(shù)規(guī)格: